華清大學5號科研樓保密會議室內，何旭明看著面前坐著的三位專家，李耀華和賀云水他都認識，倒是有一個年輕人戴著口罩，只能看出眉眼，他不認識。
但是這小子竟然能坐在這里，顯然不是秘書之類的角色，因為會議秘書都坐在右側一邊。
由于這次匯報的重要程度，能進入保密會議室的除了會議秘書和一名記錄人員之外，這三個人都坐在左邊，顯然都是專家。
他有點好奇這個年輕人的身份，但賀云水率先開了口：
“何教授，請你開始吧！”
何旭明只好從第一頁開始解釋道：“當前，除了在軍用領域上面臨昂貴的pel問題，每個汽車、手機需要成千上萬了l電容，而全球運營商期待從2g時代跨步，進一步邁向更加繁榮的3g時代。
所以，克服ic、it基礎設施中電容器硬件產品缺失，廣泛使用更廉價的bel就有很大的經濟效益
同時，經過我們團隊預測，隨著時間的推移。
如果未來二十年內，薄層bel能徹底成為高可靠性應用l的選擇，特別是取代pel，能滿足全球軍事和航空航天行業不斷發展的需求，將會使我國在這一領域取得突破進展，占據世界一流。
在4g甚至未來可能的5g時代，就可以掌握了更為先進的技術.......
李耀華打斷了他的發言，“這些背景東西就不要講了，何教授，請你解釋一下你的團隊是如何克服bel的是不可靠問題？”
何旭明略有遲疑，“其不可靠是因為失效，具體機理是，我們的產品在高溫高壓下，產品中的固有缺陷被提早激發，這樣，內部的機理就從束縛態轉變為活躍態。
在電場作用下，這些缺陷定向移動到陰極，形成泄漏電流勒，隨著時間的推移，最終導致產品熱燒毀（具體理論可稱為齊納擊穿），我們采用的方法是通過增加束縛，這樣，可以有效的提高了我們產品的可靠性。”
李耀華直接打斷他的發言；
“02年的時候，漂亮國nasa國家航空航天局戈達德太空飛行中心已經提出了可靠性要求，要求必須長期滿足高質量和高安全標準，確保產品百分之一百的可靠性！你用什么方法保證測試的？”
何旭明就答：“我，出了常規的halt方法，我使用的是利用pa計測量弛豫缺陷，這樣就可以了解每個去極化機制的泄漏電流峰值。”
聽何旭明這么說，李耀華看了一眼賀云水，兩人都默不作聲。
剛才他們本來就問到了一個關鍵性的問題，但是涉及到pa計測量弛豫缺陷這個方法，這兩個人不太清楚，實際上國內用的人不多，直到2007年國內科研團隊才開始大規模使用。
所以，何旭明是仗著他在國內沒太多人懂的先機，利用這個打了個信息差。
可是，兩位院士雖然不懂，但是憑借著深厚的理論和實踐經驗，還是感覺有一些問題，但是由于他們不懂具體怎么回事，涉及到了一些細節問題。
所以，兩人都不知道該怎么問了，都看向了蘇武。